поискавой системы для электроныых деталей |
|
HCF4011B датащи(PDF) 5 Page - STMicroelectronics |
|
HCF4011B датащи(HTML) 5 Page - STMicroelectronics |
5 / 12 page TEST CIRCUITS Quiescent Device Current. Noise Immunity. Input Leakage Current. DYNAMIC ELECTRICAL CHARACTERISTICS (Tamb =25°C, CL = 50pF, RL = 200kΩ, typical temperature coefficient for all VDD values is 0.3%/°C, all input rise and fall times = 20ns) Val ue Symbol Parameter Test Conditions V DD (V) Min. Typ. Max. Unit t PL H,tPHL Propagation Delay Time 5 125 250 ns 10 60 120 15 45 90 t THL,tTLH Transition Time 5 100 200 ns 10 50 100 15 40 80 HCC/HCF4011B/12B/23B 5/12 |
Аналогичный номер детали - HCF4011B |
|
Аналогичное описание - HCF4011B |
|
|
ссылки URL |
Конфиденциальность |
ALLDATASHEETRU.COM |
Вашему бизинису помогли Аллдатащит? [ DONATE ] |
Что такое Аллдатащит | реклама | контакт | Конфиденциальность | обмен ссыками | поиск по производителю All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |